OptoNet-Mitglied › con­fo­vis GmbH

Con­fo­vis ist Ent­wick­ler und Her­stel­ler opti­scher 3D-Ober­flä­chen­mess­ge­räte, die auf der paten­tier­ten 3D-Mess­tech­nik „Struc­tu­red Illu­mi­na­tion Micro­scopy“ (SIM) basie­ren. Vor­teile des Con­fo­vis SIM-Ver­fah­rens gegen­über Laser Scan­ning Mikro­sko­pen und wei­te­rer kon­fo­ka­ler Mess­tech­nik sind die Daten­qua­li­tät und Mess­ge­schwin­dig­keit. Con­fo­vis ist in der Lage unbe­kannte Mate­ria­lien nano­me­ter­ge­nau zu mes­sen.
Neben der kon­fo­ka­len SIM-Mess­tech­nik steht dem Nut­zer auch die Fokus­va­ria­tion zur Ver­fü­gung. Beide Ver­fah­ren ergän­zen sich opti­mal und Ergeb­nisse kön­nen in eine 3D-Aus­wer­tung fusio­niert wer­den. Im Ergeb­nis wer­den so ver­schie­denste Ober­flä­chen unter­schied­lichs­ter Topo­gra­phie und Reflek­ti­vi­tät flä­chig in Sekun­den­schnelle ver­mes­sen.