492. JENAer Optik­kol­lo­quium • Fort­schritte in der Deflektometrie

2022 Mai 19 Do

17:00 – 19:00

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Seit Mai 2018 fin­det das tra­di­tio­nelle JENAer Carl-Zeiss-Optik­kol­lo­quium als JENAer Optik­kol­lo­quium am Abbe Cen­ter of Pho­to­nics auf dem Beu­ten­berg Cam­pus Jena statt. Es ist offen für alle Inter­es­sier­ten aus For­schung, Wirt­schaft und Bil­dung und ver­steht sich als Forum für neue Tech­no­lo­gien rund um die Photonik.

Fort­schritte in der Deflek­to­me­trie: Neue Mess- und KodierungsVerfahren

Prof. Dr. Chris­tian Faber » Hoch­schule Landshut

 

ZUM THEMA

Pha­sen­mes­sende Deflek­to­me­trie ist ein seit Jahr­zehn­ten eta­blier­tes Ver­fah­ren zur opti­schen Ver­mes­sung der Topo­gra­phie spie­geln­der oder blan­ker Frei­form­flä­chen. Auf­grund sei­ner Robust­heit und der hohen loka­len Auf­lö­sung wird das Ver­fah­ren in der Indus­trie z.B. zur Ver­mes­sung und Prü­fung von Dis­plays, lackier­ten Kfz-Karos­se­rie­tei­len oder Gleit­sicht-Bril­len­glä­sern seit lan­gem erfolg­reich eingesetzt.

In den letz­ten Jah­ren gab es neue Ent­wick­lun­gen bzgl. der ver­wen­de­ten Mess­auf­bau­ten, Kodie­rungs- und Deko­die­rungs­ver­fah­ren, die es erlau­ben, das Anwen­dungs­spek­trum der Deflek­to­me­trie deut­lich zu erwei­tern: Neue mathe­ma­ti­sche Ansätze erlau­ben die Lösung des soge­nann­ten „Höhen­pro­blems“ ohne zusätz­li­chen zeit­li­chen oder appa­ra­ti­ven Auf­wand; neue Arten der Kodie­rung (Line-Shift-Deflek­to­me­trie, Fre­quenz­co­dierte Deflek­to­me­trie, Ver­wen­dung band­be­grenz­ter sto­chas­ti­scher Mus­ter) und Deko­die­rung (spe­zi­elle Arten der Wave­let-Trans­for­ma­tion) ermög­li­chen robus­tere oder genauere Mes­sun­gen – bis hin zur Mes­sung in der Bewe­gung wäh­rend des Fer­ti­gungs­flus­ses. Im Rah­men des Vor­trags wer­den die neu­es­ten Ent­wick­lun­gen auf die­sem Gebiet vor­ge­stellt, ver­schie­dene Kodie­rungs­ver­fah­ren ver­gli­chen und fun­da­men­tale Gren­zen diskutiert.

DER REFERENT

Prof. Dr. rer. nat. Chris­tian Faber stu­dierte Phy­sik an der RWTH Aachen mit Schwer­punkt Optik. Nach Abschluss sei­nes Diploms im Jahr 1995 wech­selte er in die Indus­trie in den Bereich For­schung und Ent­wick­lung für opti­sche Messtechnik.
Nach mehr­jäh­ri­ger Tätig­keit in der freien Wirt­schaft, unter ande­rem bei der Vis­com AG und Carl Zeiss SMT, fer­tigte er in der Gruppe von Pro­fes­sor Häus­ler am Insti­tut für Optik, Infor­ma­tion und Pho­to­nik der Uni­ver­si­tät Erlan­gen-Nürn­berg seine Dok­tor­ar­beit mit The­men­schwer­punkt Pha­sen­mes­sende Deflek­to­me­trie an.
2012 wurde er auf die Pro­fes­sur für Sen­so­rik und Bild­ver­ar­bei­tung der Hoch­schule Lands­hut beru­fen. Dort forscht er seit­dem in meh­re­ren Pro­jek­ten im Bereich der opti­schen 3D-Mess­tech­nik und deflek­to­me­tri­schen Mess­ver­fah­ren. Seit 2010 ist Prof. Faber Mit­glied im Vor­stand der „Deut­schen Gesell­schaft für ange­wandte Optik“ (DGaO) sowie Mit­her­aus­ge­ber der Online-Zeit­schrift „DGaO-Pro­cee­dings“.

TEILNAHME & BUCHUNGSKONDITIONEN

  • Die Ver­an­stal­tung ist offen für alle Inter­es­sier­ten und kann ab sofort gebucht werden.
  • Die Teil­nahme ist kostenfrei.
  • Die Ver­an­stal­tung fin­det online statt. Alle Teil­neh­men­den erhal­ten am Ver­an­stal­tungs­tag um 15 Uhr eine Nach­richt mit den Zugangs­da­ten und Einwahlhinweisen.

HISTORIE

Das JENAer Optik­kol­lo­quium geht auf eine Ver­an­stal­tungs­reihe der Jenaer Zeiss Werke zurück, die 1971 zunächst zur Wei­ter­bil­dung der Mit­ar­bei­ter ins Leben geru­fen wurde. Durch die Gewin­nung hoch­ka­rä­ti­ger Refe­ren­ten ent­wi­ckelte es sich schnell zu einem wich­ti­gen Dis­kus­si­ons­fo­rum der füh­ren­den Optik­ex­per­ten des Landes.

Nach 1989 wurde das Kol­lo­quium in Zusam­men­ar­beit mit dem Insti­tut für Ange­wandte Optik der Uni­ver­si­tät Jena, ver­tre­ten durch Prof. Kowar­schik, wei­ter­ge­führt und gewann durch die Betei­li­gung füh­ren­der Wis­sen­schaft­ler und Unter­neh­men und die Koope­ra­tion u.a. mit dem Fraun­ho­fer IOF und dem Leib­niz IPHT wei­ter an Bedeutung.

Das JENAer Optik­kol­lo­quium wird unter­stützt von: Carl Zeiss AG, Ernst-Abbe-Hoch­schule Jena, Fraun­ho­fer-Insti­tut für Ange­wandte Optik und Fein­me­cha­nik, Fried­rich-Schil­ler-Uni­ver­si­tät Jena, JENOPTIK AG, Leib­niz-Insti­tut für Pho­to­ni­sche Tech­no­lo­gien e.V. Ver­an­stal­ter ist Opto­Net e.V.

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Kon­takt

Opto­Net e.V.
Peggy Ler­ner

+49 3641 327 92 95
ed.muiuqollokkitpo@ofni
https://www.optonet-jena.de

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