492. JENAer Optikkolloquium • Fortschritte in der Deflektometrie
Seit Mai 2018 findet das traditionelle JENAer Carl-Zeiss-Optikkolloquium als JENAer Optikkolloquium am Abbe Center of Photonics auf dem Beutenberg Campus Jena statt. Es ist offen für alle Interessierten aus Forschung, Wirtschaft und Bildung und versteht sich als Forum für neue Technologien rund um die Photonik.
Fortschritte in der Deflektometrie: Neue Mess- und KodierungsVerfahren
Prof. Dr. Christian Faber » Hochschule Landshut
ZUM THEMA
Phasenmessende Deflektometrie ist ein seit Jahrzehnten etabliertes Verfahren zur optischen Vermessung der Topographie spiegelnder oder blanker Freiformflächen. Aufgrund seiner Robustheit und der hohen lokalen Auflösung wird das Verfahren in der Industrie z.B. zur Vermessung und Prüfung von Displays, lackierten Kfz-Karosserieteilen oder Gleitsicht-Brillengläsern seit langem erfolgreich eingesetzt.
In den letzten Jahren gab es neue Entwicklungen bzgl. der verwendeten Messaufbauten, Kodierungs- und Dekodierungsverfahren, die es erlauben, das Anwendungsspektrum der Deflektometrie deutlich zu erweitern: Neue mathematische Ansätze erlauben die Lösung des sogenannten „Höhenproblems“ ohne zusätzlichen zeitlichen oder apparativen Aufwand; neue Arten der Kodierung (Line-Shift-Deflektometrie, Frequenzcodierte Deflektometrie, Verwendung bandbegrenzter stochastischer Muster) und Dekodierung (spezielle Arten der Wavelet-Transformation) ermöglichen robustere oder genauere Messungen – bis hin zur Messung in der Bewegung während des Fertigungsflusses. Im Rahmen des Vortrags werden die neuesten Entwicklungen auf diesem Gebiet vorgestellt, verschiedene Kodierungsverfahren verglichen und fundamentale Grenzen diskutiert.
DER REFERENT
Prof. Dr. rer. nat. Christian Faber studierte Physik an der RWTH Aachen mit Schwerpunkt Optik. Nach Abschluss seines Diploms im Jahr 1995 wechselte er in die Industrie in den Bereich Forschung und Entwicklung für optische Messtechnik.
Nach mehrjähriger Tätigkeit in der freien Wirtschaft, unter anderem bei der Viscom AG und Carl Zeiss SMT, fertigte er in der Gruppe von Professor Häusler am Institut für Optik, Information und Photonik der Universität Erlangen-Nürnberg seine Doktorarbeit mit Themenschwerpunkt Phasenmessende Deflektometrie an.
2012 wurde er auf die Professur für Sensorik und Bildverarbeitung der Hochschule Landshut berufen. Dort forscht er seitdem in mehreren Projekten im Bereich der optischen 3D-Messtechnik und deflektometrischen Messverfahren. Seit 2010 ist Prof. Faber Mitglied im Vorstand der „Deutschen Gesellschaft für angewandte Optik“ (DGaO) sowie Mitherausgeber der Online-Zeitschrift „DGaO-Proceedings“.
TEILNAHME & BUCHUNGSKONDITIONEN
- Die Veranstaltung ist offen für alle Interessierten und kann ab sofort gebucht werden.
- Die Teilnahme ist kostenfrei.
- Die Veranstaltung findet online statt. Alle Teilnehmenden erhalten am Veranstaltungstag um 15 Uhr eine Nachricht mit den Zugangsdaten und Einwahlhinweisen.
HISTORIE
Das JENAer Optikkolloquium geht auf eine Veranstaltungsreihe der Jenaer Zeiss Werke zurück, die 1971 zunächst zur Weiterbildung der Mitarbeiter ins Leben gerufen wurde. Durch die Gewinnung hochkarätiger Referenten entwickelte es sich schnell zu einem wichtigen Diskussionsforum der führenden Optikexperten des Landes.
Nach 1989 wurde das Kolloquium in Zusammenarbeit mit dem Institut für Angewandte Optik der Universität Jena, vertreten durch Prof. Kowarschik, weitergeführt und gewann durch die Beteiligung führender Wissenschaftler und Unternehmen und die Kooperation u.a. mit dem Fraunhofer IOF und dem Leibniz IPHT weiter an Bedeutung.
Das JENAer Optikkolloquium wird unterstützt von: Carl Zeiss AG, Ernst-Abbe-Hochschule Jena, Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik, Friedrich-Schiller-Universität Jena, JENOPTIK AG, Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V. Veranstalter ist OptoNet e.V.
Veranstaltungsform
Online
Kontakt
OptoNet e.V.
Peggy Lerner
+49 3641 327 92 95
ed.muiuqollokkitpo@ofni
https://www.optonet-jena.de
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